Si è tenuto oggi il nostro workshop “Le sfide nel Testing dei semiconduttori” che abbiamo organizzato a Catania, coinvolgendo le realtà più importanti del nostro settore.
51 partecipanti, 12 presentazioni e 12 momenti di dibattito e confronto.
È stata un’esperienza di incontro, scambio e arricchimento reciproco che sicuramente ripeteremo.

Un grazie a tutti voi, protagonisti della giornata: 3Sun Gigafactory (Enel Green Power) • Advantest • AEIT • Analog Devices • CNR • EDA INDUSTRIES S.P.A. • Intel Corporation • ITING – ITALIANA INGEGNERIA S.R.L. • Meridionale Impianti S.p.A. • NXP Semiconductors • STMicroelectronics Italia • Synergie CAD Instruments • Teradyne • Università di Catania DIEEI